QCM-I Mini 高精度耗散型石英晶体微天平能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散，进而分析反应过程中微小的质量变化，吸附层厚度变化等；能够判断膜的刚性或柔性，并且分析膜的粘弹性方面的性质；以及实时追踪分子排列、结构变化等.

• 阻抗型、耗散型石英晶体微天平

• 判断薄膜的刚性与柔性

• 测量耗散，分析膜的粘弹性

• 吸附、成膜等过程中的微小质量变化，分析膜的厚度、质量等

• 实时追踪反应过程中的分子排列、结构变化......

• 同时测量共振频率和耗散因子

• 快速测量多个谐波震动频率（对于5MHz晶片，可以测到第13次谐波）

• 温控范围是15°C 到60°C (精度± 0，02 °C)

• 可扩展到2通道

• 和Windows® 10等操作系统PC计算机兼容。直接通过USB实现数据通讯

• 液相中标准耗散因子精度为~ 1 x 10^-7

QCM-I Mini 高精度耗散型石英晶体微天平适用领域：

生物传感器、化学传感器、电池、腐蚀等领域，包括：

聚合物膜、纳米粒子薄膜

Li+ 嵌入（锂电或电容器）

材料表面腐蚀研究

电沉积

自组装单层

抗原-抗体相互作用

表面活性剂吸附

蛋白质吸附

离子和溶剂运输

Biosense软件可同时控制石英晶体微天平和Gamry恒电位仪的运行及数据获取。

测试曲线：

测量共振频率及共振电导曲线的半峰宽（FWHM），**频率可达80 MHz

连续进行频率测试的同时，监控温度随时间的变化

数据分析:  

用户可以使用标准或自定义模型，计算相关QCM参数及吸附层参数